Тадқиқотнинг мақсади: сиғимли ва инфрақизил спектроскопия усуллари ёрдамида вольфрам ва молибден киришмалари билан легирланган кремнийда нуқсонли марказларининг шаклланиш хусусиятларини, шунингдек, технологик омилларнинг кремнийдаги бу киришмаларнинг хусусиятларига таъсирини тадқиқ қилишдан иборат.